高加速寿命试验

加速寿命试验是在保持失效机理不变的情况下，通过加大试验应力促使受试样品在短期内失效，以预测其在正常工作条件或储存条件下的可靠性的一种试验方法。使用加速寿命试验可以缩短试验时间，提高试验效率，降低试验成本。

高加速寿命试验适用于电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件等的研发、设计和试产阶段，也可以用于批量生产阶段。对于大型整机设备，应优先考虑在前端的装配级别（如印制电路板组件、子模块）上进行试验。

什么是高加速寿命试验HALT

指通过逐步增强施加在试验样品上的试验应力（如温度、振动、快速温变及振动综合应力等），确定产品的耐受应力极限的试验。

高加速寿命试验方案应包含哪些内容

1、试验样品的信息；

2、试验应力条件；

3、试验过程中的测量；

4、试验样品的工作状态及失效和故障的判定；

5、试验实施计划。

试验样品的数量

试验样品一般不少于3个，特殊要求的除外。

试验前应对受试样品进行充分的分析，评估可能发生失效或故障的元器件、连接措施、焊接工艺等，方便提前准备替代或修复措施。必要时候，需要提供产品的电路原理图、元器件清单、制造工艺文件等资料。

试验项目及试验顺序

1、常温性能试验-检查样品的功能，测量其性能指标，确认样品各项功能正常。

2、温度均匀性试验-通常在低温步进试验前，进行温度均匀性测试。

3、低温步进试验-确定样品的低温工作极限和低温破坏极限。

4、高温步进试验-确定样品的高温工作极限和高温破坏极限。

5、快速温变循环试验-确定5次高低温循环变化过程中样品的性能表现。

6、振动步进试验-进行耐久性随机振动试验，步进值为5Grms，确定样品的振动工作极限和振动破坏极限。

7、快速温变循环与振动步进综合试验-在快速温度循环与振动步进综合应力条件下，考核产品的功能性能表现。

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